第一届中国微电子计量与测试技术研讨会_信息科学与系统科学_会议信息

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第一届中国微电子计量与测试技术研讨会

发布时间：2008/10/13

[ 会议基本信息 ]

会议名称（中文）：

第一届中国微电子计量与测试技术研讨会

会议名称（英文）：

2008 Chinese Microelectronic Measurement and Test Symposium

所属学科：

信息科学与系统科学　电子、通信与自动控制技术　

会议类型：

国内会议

会议论文集是否检索：

不详

开始日期：

2008-10-15

结束日期：

2008-10-16

所在国家：

中华人民共和国

所在城市：

湖北省武汉市

具体地点：

主办单位：

国防科技工业微电子一级计量站

协办单位：

中船重工第七〇九研究所

承办单位：

议题：

[ 组织结构 ]

会议主席：

王小非

组织委员会主席：

程序委员会主席：

闵应华

会议嘉宾：

[ 重要日期 ]

摘要截稿日期：

全文截稿日期：

2008-7-15

论文录用通知日期

2008-8-15

交修订版截止日期：

[ 会务组联系方式 ]

联系人：

张明虎

联系电话：

027-87533046

传真：

027-87534014

E-mail：

cmmt2008@gmail.com

通讯地址：

武汉市74223信箱6分箱

邮政编码：

430074

会议新闻(共0条新闻）：

会议注册费：

会议网站：

http://www.cmmt.org/cmmt2008/

会议背景介绍：

微电子技术已成为当代技术革命的核心。微电子技术的发展，离不开计量与测试。当前，微电子器件的发展呈现规模愈来愈大、结构愈来愈复杂、功能愈来愈强大的特点，使微电子器件参数以及参数测量设备的计量与测试面临极大的挑战。在我国科技创新的形势下，迫切需要加强学术界与工业界的交流和沟通，使我国拥有自己的核心技术。长期以来，我国科技工业出于对产品质量和量值准确可靠的严格要求，逐步在微电子计量测试方面形成了自身特色，拥有了一批先进的计量测试标准和技术成果。为了共同提高我国微电子计量与测试技术水平，拟于2008年10月15～16日在武汉召开第一届中国微电子计量与测试技术研讨会

征文范围及要求：

征文范围（不限于以下内容）

微电子计量
微电子测试
计量标准与计量器具研究
量值溯源与量传体系研究
量值传递与管理技术研究
微电子元器件测试系统与参数的检定与校准技术
标准样片制备与应用技术
测量不确定度分析
基于虚拟仪器的计量技术研究
计量保障技术研究
内建自测试（BIST）技术
可测试性设计（DFT）技术
SOC测试
IDDQ测试
DSP测试
单片机测试
FPGA测试
纳米芯片技术测试
生物芯片测试　
微电子测试设备
微电子测试开发技术
测试设备体系结构
测试组件分析
测试适配器设计技术
测试设备维护与维修技术
自动测试技术
测试软件开发与设计
混合信号测试技术
数据采集与分析处理
延迟与性能测试技术
测试质量与可靠性分析
软件测试技术

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