2025检测技术、智能系统与深度学习国际会议（ICDTISDL 2025）

2025检测技术、智能系统与深度学习国际会议（ICDTISDL 2025）

◆重要信息

会议官网：www.global-meetings.com/icdtisdl

2025 International Conference on Detection Technology, Intelligent Systems, and Deep Learning

会议地址：成都

召开日期：2025.10.05

截稿日期：2025.9.20（先投稿，先审核，先提交出版检索）

最终截稿时间：以官网为准（抓紧投稿！延期投稿请联系组委会老师）

投稿邮箱：iceefsem_info@126.com投稿时请在邮件正文备注：叶老师推荐享投稿优惠。

◆大会简介

2025检测技术、智能系统与深度学习国际会议将拟定于2025中国成都召开。会议旨在将“检测技术、智能系统与深度学习”等学术领域的学者、专家、研发者、技术人员聚集到一个学术交流的平台，并且提供一个共享科研成果、前沿技术，了解学术发展趋势，扩大专业网络，拓宽研究思路，加强学术研究和探讨，促进学术成果产业化合作的平台。目的是为了探讨相关领域发展所面临的关键性挑战问题和研究方向，以期推动理论和技术在高校和企业的发展与应用，同时也为参会者建立业务或研究上的联络，以及寻找未来事业上的合作伙伴

◆征稿主题

（以下主题包括但不限于）

主题一：检测技术

现代检测技术

集成化系统开发的技术基础

自动测试理论

测试计量技术及仪器

复杂系统建模与仿真

MATLAB系统分析语言及应用

多传感器融合理论与应用

******估计与系统辨识

人工神经网络

在线检测及无损检测技术

模糊理论与应用

光电检测及计算机视觉检测技术

遗传算法与进化算法

控制网络与现场总线

微纳米检测

智能化仪表

遥感和遥测技术

建模与仿真

精密测试与传感器技术

主题二：智能系统

计算智能

专家系统

模糊集与系统

遗传算法

归纳与转导推理

智能行为

智能控制

智能数据分析

智能数据挖掘

智能故障诊断智能测量

智能网络

智能安防系统

智能信号处理

机器学习

自然语言处理

主题三:深度学习

认知架构

机器学习

自主计算

图像处理

信息检索和重用

机器学习

◆论文出版

所有投稿都必须先经过2-3位专家审稿，评审录用后，文章将以会议论文集的形式出版，最终提交EI、CPCI、CNKI、Google、CrossRef、ResearchGate检索。

◆投稿方式：

1.英文投稿：请将英文稿件全文（WORD+PDF）直接上传至iceefsem_info@126.com如需翻译请联系叶老师.

2.审稿流程：作者投稿-稿件收到确认（1个工作日）-初审(1-3工作日) -告知结果（接受/拒稿），越早投稿越早收到文章结果。

◆投稿说明：

1.本会议官方语言为英语，投稿者务必用英语撰写论文。

2.稿件应为原创作品，未在国内外刊物上发表过,不接受一稿多投。作者可通过Turnitin查询系统查重。涉嫌抄袭的论文将不被出版。

3.请根据格式模板文件编辑您的文章。

4.文章至少6页。学生作者或多篇投稿有优惠。

5.只做报告不发表论文的作者只需提交摘要。

6.投稿主题请注明:ICDTISDL 2025+通讯作者姓名（否则无法确认您的稿件）