2026年精密测量、智能仪器与自动化控制国际会议（IPMIIA 2026）

2026年精密测量、智能仪器与自动化控制国际会议（IPMIIA 2026）

2026 International Conference on Precision Measurement, Intelligent Instruments and Automation Control（IPMIIA 2026）

●重要信息

截稿时间：2026年11月15日（延期投稿请联系大会蒋老师）

召开时间/地点： 中国 · 厦门 | 2026年11月30日（暂定）

审稿周期：投稿后约3个工作日左右

收录检索：EI Compendex、CPCI、Scopus、CNKI、Google Scholar等数据库稳定检索

核心亮点：ISSN/ISBN双刊号 | 高录用 | 权威出版 | 检索稳定 | 符合评职、毕业、评优等要求 | 学生/团体投稿享优惠

◆◆ 如需发表SCI、SSCI、AHCI、中文核心期刊或国内三大网普刊，国际知网/谷歌普刊等刊物，欢迎咨询会务蒋老师，提供全品类精准匹配服务！

●论文收录

所有投稿均须经过2-3位组委会专家审稿。录用论文将统一提交IEEE、Springer、SPIE、ACM、IOP等权威出版社，以会议论文集形式安排出版，见刊后提交至Scopus、EI Compendex、CPCI、CNKI、Google Scholar检索，目前检索稳定。

●会议简介

2026年精密测量、智能仪器与自动化控制国际会议（IPMIIA 2026）将于中国厦门举办，会议聚焦精密测量理论、智能传感仪器、自动化控制与智能制造等前沿方向，面向海内外高校、科研院所及企业技术人员，搭建高水平国际化学术交流平台。会议旨在汇聚领域科研力量，分享精密检测、智能仪表、先进控制算法与工程落地成果，探讨学科发展新趋势，促进跨地域、产学研协同创新。本次会议欢迎相关方向学者与工程技术人员参会交流，积极投稿高质量学术成果，共同助力精密仪器与自动化测控领域技术革新与产业升级。

●征文主题（以下主题包括但不限于）

Track 1：精密测量理论与测量技术

几何量精密测量与超精密检测

光电测量、机器视觉与光学测量

激光测量、干涉测量与散斑检测

坐标测量与三维形貌重构

时间、频率与物理量精密计量

微纳尺度测量与微观表征技术

惯性测量、姿态测量与导航测量

超声测量、无损检测与传感测量

多源测量数据融合与误差补偿

测量不确定度评估与计量校准

动态测量、在线测量与原位检测

光谱测量、荧光检测与成分分析

大尺寸测量与工业现场精密检测

信号采集、降噪与测量信号处理

测量仪器标定、溯源与计量体系

Track 2：智能仪器、传感技术与仪器设计

新型传感器原理、设计与集成

MEMS 微纳传感器与微型仪器

光电传感、光纤传感与光栅传感

柔性传感、可穿戴传感与智能感知

智能仪器硬件电路与嵌入式系统

仪器低功耗设计与微型化技术

仪器信号调理、数据采集模块

智能仪器人机交互与数据终端

虚拟仪器、模块化仪器系统

仪器可靠性、稳定性与抗干扰设计

多参量集成检测仪器开发

生物检测仪器与环境监测仪器

工业在线监测仪器与成套设备

仪器数字孪生与虚拟仿真设计

Track 3：自动化控制工程

现代控制理论与自适应控制

滑模控制、预测控制与鲁棒控制

模糊控制、神经网络与智能控制

非线性系统建模、辨识与控制

多智能体协同控制与分布式控制

运动控制、伺服控制与精密运动平台

机器人控制与机械手轨迹规划

工业过程控制与流程工业自动化

工业物联网与自动化数据平台

自动化系统故障诊断与容错控制

实时控制系统与嵌入式控制算法

视觉伺服控制与视觉引导自动化

智能制造产线自动化与调度优化

机电液一体化系统建模与控制

无人系统（无人机 / 无人车）自主控制

...

●投稿须知

1.会议官方语言为英语，请严格按模板格式排版，文章页数不少于6页。

2.如需翻译或润色服务，可联系会务蒋老师。

3.学生作者或多篇投稿可享注册优惠。

4.论文须为原创且未公开发表，禁止抄袭、一稿多投。投稿前请自行通过Turnitin查重，重复率过高导致的拒稿由作者自负，抄袭行为不予出版。

5.投稿流程：投稿→审稿→录用→缴费→注册参会→见刊→检索。

●参会方式

1.主讲嘉宾：申请主题演讲，由会务组审核。

2.口头演讲：申请口头报告，时间为10分钟左右。（参会名额有限，优先报名）

3.听众参会：不投稿仅参会，可旁听学习。