中国电子学会第十四届青年学术年会暨“电子产品制造与质量可靠性论坛”_综合类别_会议信息

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中国电子学会第十四届青年学术年会暨“电子产品制造与质量可靠性论坛”

发布时间：2008/09/19

[ 会议基本信息 ]

会议名称（中文）：

中国电子学会第十四届青年学术年会暨“电子产品制造与质量可靠性论坛”

会议名称（英文）：

CIE-YC'2008

所属学科：

信息科学与系统科学　工程与技术科学基础学科　材料科学　电子、通信与自动控制技术　计算机科学技术　航空航天科学技术　物理学　

会议类型：

国内会议

会议论文集是否检索：

不详

开始日期：

2008-9-21

结束日期：

2008-9-27

所在国家：

中华人民共和国

所在城市：

广东省广州市

具体地点：

信息产业部电子第五研究所

主办单位：

中国电子学会

协办单位：

IEEE电子器件协会广州分会

承办单位：

中国电子学会青年工作委员会

议题：

[ 组织结构 ]

会议主席：

孔学东鲍长春

组织委员会主席：

程序委员会主席：

恩云飞

会议嘉宾：

[ 重要日期 ]

摘要截稿日期：

全文截稿日期：

2008-6-30

论文录用通知日期

2008-7-30

交修订版截止日期：

[ 会务组联系方式 ]

联系人：

崔晓英何玉娟

联系电话：

020-87237935、87237715

传真：

020-87237185

E-mail：

cieyc2008@ceprei.com和cieyc2008@126.com

通讯地址：

广州市天河区东莞庄路110号信息产业部电子五所重点实验室

邮政编码：

510610

会议新闻(共0条新闻）：

会议注册费：

会议网站：

http://cieyc2008.ceprei.com/news3.htm

会议背景介绍：

中国电子学会第十四届青年学术年会（简称：CIE-YC’2008）将于2008年9月在广州召开。这是一次广泛团结广大青年科技工作者，促进电子信息及其相关学科青年学者学术交流的盛会，届时还将邀请国内外著名专家学者作综述或专题报告，大会将在参会宣读论文中评选优秀论文并推荐到核心科技期刊上发表。大会将利用“珠三角”电子信息产业优势与产业互动，会议期间将举办“失效分析在提升产品质量中的作用”和“电子产品生产质量与控制”技术培训，并组织在广东地区参观学习。
第十四届青年学术年会被录用的论文将统一编排为中国电子学会第十四届青年学术年会论文集，由国防工业出版社出版（2008年9月出版），为正式出版，有ISBN号。中国电子学会第十四届青年学术年会（简称：CIE-YC’2008）将于2008年9月21～27日在广州召开，其中22～23日是电子产品制造与质量可靠性论坛研讨会，24～26日为青年学术交流大会。为保证论文集出版，并保证出版质量，根据相关规定，每篇论文需交纳相应的版面费550元/篇（按4页算，超过4页后每页加100元），为鼓励学生撰写论文和参会，学生论文450元/篇（按4页算，超过4页后每页加100元）。

征文范围及要求：

征文范围（但不限于这些领域）
1. 电子产品可靠性与环境适应性技术
2. 电子产品设计、生产与过程控制
3. 微电子与电子器件技术（微电子、元器件、光电子）
4. 电路与系统
5. 自动控制技术
6. 信息与通信技术
7. 计算机与软件工程
8. 多媒体技术

会议视频：

相关资料下载：