2026年精密测量、仪器仪表与电子测试技术国际会议（IPMIET 2026）

2026 International Conference on Precision Measurement, Instrumentation and Electronic Testing Technology（IPMIET 2026）

征稿广 | 审核快 | 高录用

权威出版，检索稳定

ISBN/ISSN双刊号认证 · 团队/学生享优惠

●会议信息

会议时间：2026年11月1日（暂定）

截稿时间：2026年10月17日（延期投稿请联系徐老师）

会议地点：天津，中国

审稿周期：投稿后约 2–3 个工作日

会议出版：IEEE、Springer、SPIE、ACM、IOP 等权威出版社

收录检索：EI Compendex、Scopus、CPCI、CNKI、Google Scholar 等数据库稳定检索

★ 其他发表渠道：如需 SSCI/SCI 期刊、中文核心期刊、国内三大网收录期刊等渠道，欢迎咨询会务组徐老师。

●会议简介

2026年精密测量、仪器仪表与电子测试技术国际会议（IPMIET 2026）将在中国天津召开，会议围绕精密测量理论、先进仪器研发、电子测试与传感技术等前沿方向，搭建海内外高校、科研机构及行业企业的高端学术交流平台。大会邀请领域知名专家作特邀报告，集中展示相关领域最新研究成果、核心装备与工程实践案例，探讨技术痛点与发展趋势，促进跨学科思想碰撞、国际学术交流与产学研协同创新，助力精密测试与仪器领域技术迭代与产业升级。

●论文出版

所有投稿须经组委会2-3位专家严格审稿，录用并注册的论文将以会议论文集形式出版，见刊后提交至Scopus、EI Compendex、CPCI、CNKI、Google Scholar等数据库稳定检索！

●征稿主题（包括但不限于）

Track 1：精密测量与计量技术

几何量精密测量与超精密测量技术

光学干涉测量与激光测量技术

纳米计量与微纳尺度测量

坐标测量技术与三维测量

表面形貌与粗糙度测量

精密位移、角度与振动测量

测量不确定度评定与量值溯源

在线测量与在机测量技术

大尺寸空间测量与工业摄影测量

量子计量与新型计量标准

精密测量中的误差补偿与校准

多传感器融合测量系统

极端环境下的精密测量技术

微纳制造中的在线计量方法

数字孪生驱动的测量系统仿真

Track 2：仪器仪表与智能传感

精密仪器设计与系统集成

智能传感器与传感网络

虚拟仪器与软件定义仪器

光电仪器与光学测量仪器

电子测量仪器与信号分析仪

生物医学仪器与检测设备

环境监测仪器与传感器

工业过程检测仪表与控制装置

惯性器件与导航仪器

量子传感器与量子精密测量

柔性/可穿戴传感器与电子皮肤

微纳传感器与MEMS/NEMS器件

传感器信号调理、标定与校准

仪器可靠性与环境适应性

仪器仪表智能化与边缘计算

Track 3：电子测试与自动测试系统

模拟/混合信号电路测试技术

射频与微波测量技术

集成电路测试与可测性设计（DFT）

片上系统（SoC）测试与验证

自动测试设备（ATE）与测试系统设计

边界扫描与内建自测试（BIST）技术

信号完整性分析与时域测试

高速数字电路测试与眼图分析

电磁兼容测试与电磁干扰诊断

功率电子器件测试与可靠性评估

光电与光通信器件测试技术

传感器与MEMS器件测试

电池与储能系统测试技术

智能诊断、故障预测与健康管理

测试数据管理与智能测试优化

......

●投稿须知

1. 全英文投稿，须严格按模板排版，正文不少于6页。

2. 所有稿件将进行文献真实性检测，投稿前请自行查重（推荐Turnitin），因重复率超标被拒，责任由作者承担。

3. 论文须为原创，且未在其他平台或渠道正式发表。

4. 投稿流程：作者投稿→审稿→录用→缴费→【注册参会】→见刊→纸质论文集→检索。

5. 如需翻译/润色、加急录用协助，或学生/组团投稿享优惠，请联系会务徐老师。

★ 特别提醒：投稿后，请安排一位作者主动添加大会秘书微信，以便及时沟通和跟进论文状态。

●参会方式

1. 口头汇报：申请口头报告者，须将摘要提交至大会邮箱审核，摘要出版。（名额有限，优先报名）

2. 听众参会：仅参会听会，无任何展示。

* 以上参会方式，可获得会议资料（邀请函、参会证书、会议通知等）