2025年智能系统、检测技术与自动测控国际会议(ISDTAMC 2025)

2025 International Conference on Intelligent Systems, Detection Technology, and Automatic Measurement and Control（ISDTAMC 2025）

会议地点：上海，中国

大会时间：2025年7月6日

截稿时间：以官网为准（早投稿早录用早出版）

官网网址：www.global-meetings.com/isdtamc

投稿邮箱: ei_saime@163.com

投稿主题请注明: ISDTAMC 2025+通讯作者姓名+谢老师推荐（否则无法确认您的稿件）

●会议简介

2025智能系统、检测技术与自动测控国际会议(ISDTAMC 2025)定在中国上海举行。会议旨在为从事智能系统、检测技术与自动测控等领域的研究的专家学者提供一个共享科研成果和前沿技术，了解学术发展趋势，拓宽研究思路，加强学术研究和探讨，促进学术成果产业化合作的平台。大会诚邀国内外高校、科研机构专家、学者，企业界人士及其他相关人员参会交流。

●论文收录

向ISDTAMC 2025提交的所有全文都可以用英语书写，并将发送给至少两名评审员，并根据原创性、技术或研究内容或深度、正确性、与会议的相关性、贡献和可读性进行评估。ISDTAMC 2025所有被接受的论文将在会议记录中发表，并提交给Scopus、EI Compendex、CPCI、CNKI、Google Scholar进行索引。

●征文主题

（主题包括但不限于）

主题一：智能系统              

机器人传感和数据融合

系统建模和识别

智能在线无损检测系统及应用

智能故障检测与诊断

工智能驱动的技术应用

计算机控制

智能机器人

事件与数据驱动控制

飞行器导航、制导与控制

最入式系统与无线传感网络

工业计算机集散控制系统

人工智能方法和系统

人机交互技术

主题二：检测技术

微机测控装置与系统

传感技术与应用

机电信号检测与处理

自动检测与转换技术

检测技术与自动化装置的研究与应用

自动检测系统的控制,运行与维护

电路基础

电子技术

机械设计

金属材料与热处理

工业分析技术

无损探伤

测量仪器与仪表

传感器与自动检测

计量技术

主题三：自动测控

自适应控制控制系统与应用

数字控制

故障检测与隔离(FDI)

工业自动化

仪表和控制组件

智能控制

线性和非线性控制系统

半自治系统

随机控制和过滤

系统识别/系统与自动化

虚拟仪器和控制

●提交论文

1.直接将您的文章或摘要投到我们的会议邮箱，我们收到后会第一时间回复您。

投稿邮箱：ei_saime@163.com（备注谢老师推荐享优先审稿和投稿优惠）

投稿主题请注明:ISDTAMC 2025+通讯作者姓名+谢老师推荐（否则无法确认您的稿件）

2.审稿流程：作者投稿-稿件收到确认（1个工作日）-初审(1-3工作日) -告知结果（接受/拒稿），越早投稿越早收到文章结果。

●投稿说明

1.本会议官方语言为英语，投稿者务必用英语撰写论文。

2.稿件应为原创作品，未在国内外刊物上发表过,不接受一稿多投。作者可通过Turnitin查询系统查重。涉嫌抄袭的论文将不被出版。

3.请根据格式模板文件编辑您的文章。

4.文章至少6页。学生作者或多篇投稿有优惠。

5.只做报告不发表论文的作者只需提交摘要。