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第五届中国测试学术会议

发布时间：2008/06/06

[ 会议基本信息 ]

会议名称（中文）：

第五届中国测试学术会议

会议名称（英文）：

CTC2008 China Test Conference

所属学科：

测绘科学技术　

会议类型：

国内会议

会议论文集是否检索：

不详

开始日期：

2008-5-21

结束日期：

2008-5-23

所在国家：

中华人民共和国

所在城市：

江苏省苏州市

具体地点：

苏州工业园区国际科技园

主办单位：

中国计算机学会容错计算专业委员会等

协办单位：

承办单位：

议题：

[ 组织结构 ]

会议主席：

组织委员会主席：

程序委员会主席：

沈理

会议嘉宾：

[ 重要日期 ]

摘要截稿日期：

全文截稿日期：

2008-1-31

论文录用通知日期

2008-3-20

交修订版截止日期：

2008-4-20

[ 会务组联系方式 ]

联系人：

沈理汤晓蓉

联系电话：

(0512) 62889083

传真：

E-mail：

lshen@ict.ac.cn lshen@ict.ac.cn (0512) 62889012

通讯地址：

邮政编码：

会议新闻(共0条新闻）：

会议注册费：

会议网站：

http://ctc08.szicc.com.cn/index.asp

会议背景介绍：

征文范围及要求：

征文范围（不限于以下内容）

ATPG
SOC/ASIC测试
微处理器测试
存储器测试
高速数字测试
模拟和混合信号测试
RF测试
At-speed测试
时延测试
IDDQ和电流测试
缺陷测试

设计验证
模拟技术
测试综合
可测试性设计
可调试性设计
可靠性设计和测试
可制造性设计和测试
软件测试
软件可靠性
网络测试
软件测试平台

故障诊断
容错技术
信息安全
硅片验证和特性测试
硅片调试和诊断
良品率分析测试
系统级测试和诊断
ATE硬件和软件
生产测试自动化
测试经济学

会议视频：

相关资料下载：

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