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第五届中国测试学术会议
2008/06/06
[ 会议基本信息 ] | ||
会议名称(中文): | 第五届中国测试学术会议 | |
会议名称(英文): | CTC2008 China Test Conference | |
所属学科: |
| |
会议类型: | 国内会议 | |
会议论文集是否检索: | 不详 | |
开始日期: | 2008-5-21 | |
结束日期: | 2008-5-23 | |
所在国家: | 中华人民共和国 | |
所在城市: | 江苏省 苏州市 | |
具体地点: | 苏州工业园区 国际科技园 | |
主办单位: | 中国计算机学会容错计算专业委员会 等 | |
协办单位: | ||
承办单位: | ||
议题: | | |
[ 组织结构 ] | ||
会议主席: | ||
组织委员会主席: | ||
程序委员会主席: | 沈理 | |
会议嘉宾: | ||
[ 重要日期 ] | ||
摘要截稿日期: | ||
全文截稿日期: | 2008-1-31 | |
论文录用通知日期 | 2008-3-20 | |
交修订版截止日期: | 2008-4-20 | |
[ 会务组联系方式 ] | ||
联系人: | 沈理 汤晓蓉 | |
联系电话: | (0512) 62889083 | |
传真: | ||
E-mail: | lshen@ict.ac.cn lshen@ict.ac.cn (0512) 62889012 | |
通讯地址: | ||
邮政编码: | ||
会议新闻(共0条新闻): | | |
会议注册费: | ||
会议网站: | http://ctc08.szicc.com.cn/index.asp | |
会议背景介绍: | ||
征文范围及要求: | 征文范围(不限于以下内容) ATPG SOC/ASIC测试 微处理器测试 存储器测试 高速数字测试 模拟和混合信号测试 RF测试 At-speed测试 时延测试 IDDQ和电流测试 缺陷测试 设计验证 模拟技术 测试综合 可测试性设计 可调试性设计 可靠性设计和测试 可制造性设计和测试 软件测试 软件可靠性 网络测试 软件测试平台 故障诊断 容错技术 信息安全 硅片验证和特性测试 硅片调试和诊断 良品率分析测试 系统级测试和诊断 ATE硬件和软件 生产测试自动化 测试经济学 | |
会议视频: | | |
相关资料下载: | |
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