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第五届中国测试学术会议

发布时间:2008/06/06

[ 会议基本信息 ]
会议名称(中文): 第五届中国测试学术会议
会议名称(英文): CTC2008 China Test Conference
所属学科:
测绘科学技术 
会议类型: 国内会议
会议论文集是否检索: 不详
开始日期: 2008-5-21
结束日期: 2008-5-23
所在国家: 中华人民共和国
所在城市: 江苏省   苏州市
具体地点: 苏州工业园区 国际科技园
主办单位: 中国计算机学会容错计算专业委员会 等
协办单位:
承办单位:
议题:
[ 组织结构 ]
会议主席:
组织委员会主席:
程序委员会主席: 沈理
会议嘉宾:
[ 重要日期 ]
摘要截稿日期:
全文截稿日期: 2008-1-31
论文录用通知日期
2008-3-20
交修订版截止日期: 2008-4-20
[ 会务组联系方式 ]
联系人: 沈理 汤晓蓉
联系电话: (0512) 62889083
传真:
E-mail: lshen@ict.ac.cn lshen@ict.ac.cn (0512) 62889012
通讯地址:
邮政编码:
会议新闻(共0条新闻):
会议注册费:
会议网站: http://ctc08.szicc.com.cn/index.asp
会议背景介绍:  
征文范围及要求: 征文范围(不限于以下内容)
 


 
ATPG
SOC/ASIC测试 
微处理器测试 
存储器测试 
高速数字测试 
模拟和混合信号测试 
RF测试 
At-speed测试 
时延测试 
IDDQ和电流测试 
缺陷测试  

 
设计验证 
模拟技术 
测试综合 
可测试性设计 
可调试性设计 
可靠性设计和测试 
可制造性设计和测试 
软件测试 
软件可靠性 
网络测试 
软件测试平台 

 
故障诊断 
容错技术 
信息安全 
硅片验证和特性测试 
硅片调试和诊断 
良品率分析测试 
系统级测试和诊断 
ATE硬件和软件 
生产测试自动化 
测试经济学 
 
会议视频:
相关资料下载:

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