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西安交大王来利教授团队在《自然综述·电气工程》 发表碳化硅功率器件封装与集成领域重要综述成果

2026/04/22

文章导读
智能电网和航空航天都在拼命追求更高效率,但你是否发现,即便换上了性能强悍的碳化硅芯片,系统整体表现却往往不及预期?问题不出在芯片本身,而是被长期忽视的“封装集成”环节拖了后腿。传统为硅器件设计的方案,根本无法承受碳化硅带来的极端电磁耦合与高热流密度,导致昂贵的新材料优势在最后一道关卡被彻底抵消。西安交大王来利团队在《自然综述·电气工程》上揭露了这一行业痛点,并提出了全新的统一理论体系。究竟该如何打破材料与系统间的性能壁垒,让碳化硅真正释放其颠覆性潜力?答案可能藏在你从未注意过的电热协同设计细节里。
— 内容由好学术AI分析文章内容生成,仅供参考。

随着智能电网、航空航天、能源开发等领域对电能变换系统效率与功率密度要求的不断提升,作为核心器件的功率半导体正加速向宽禁带材料方向发展。与传统硅器件相比,碳化硅功率器件具有更高的工作频率与更高的效率,并能够在更高电压与更高温度条件下稳定运行,为电力电子系统实现高效率、高可靠与高功率密度提供了重要技术基础。要将碳化硅材料与器件层面的优势充分转化为系统层面的性能提升,封装集成技术发挥着关键作用。现有封装技术体系主要面向硅功率器件发展而来,在碳化硅应用中面临新的挑战。因此,系统梳理碳化硅功率器件封装与集成技术的发展现状,围绕关键问题构建相应的理论体系与统一的科学方法,对于推动其在新一代电力电子系统中的应用具有重要的理论价值与工程意义。

基于此,西安交通大学电气工程学院、电工材料电气绝缘全国重点实验室王来利教授团队与欧洲电力电子中心Leo Lorenz教授对碳化硅功率器件封装集成技术的发展与关键问题进行梳理研究。工作从材料、器件到系统多个层级出发,分析了碳化硅材料特性如何转化为器件性能与系统优势,并重点总结了限制其性能发挥的关键封装集成问题。研究指出,高速开关带来的多种电磁耦合效应、小尺寸芯片导致的高热流密度以及极端条件运行对传统封装材料可靠性的限制,是传统封装集成技术无法完全适配碳化硅功率半导体的主要原因。针对上述挑战,研究凝练形成统一的科学与技术应对方法,并明确封装集成理论体系构建的主要方向,包括需要发展适用于极端条件下的新型封装材料,构建不同应用场景下的封装集成架构,通过电热协同设计在器件封装与变换系统层面实现性能的综合优化。此外,研究还从应用需求角度分析了碳化硅器件封装集成技术的未来发展趋势。

西安交大王来利教授团队在《自然综述·电气工程》 发表碳化硅功率器件封装与集成领域重要综述成果

图1 碳化硅功率器件的应用领域、封装集成与优异特性

西安交大王来利教授团队在《自然综述·电气工程》 发表碳化硅功率器件封装与集成领域重要综述成果

图2 碳化硅功率器件三个系统级关键优势及其封装集成

近日,相关研究成果以《碳化硅功率器件封装与集成》(Packaging and integration of silicon carbide power devices)为题发表于《自然综述·电气工程》(Nature Reviews Electrical Engineering)。电气工程学院王来利教授为第一作者与唯一论文通讯作者,杨奉涛博士为共同第一作者,裴云庆教授、杨旭教授以及Leo Lorenz博士为共同作者。论文第一单位为西安交通大学电工材料电气绝缘全国重点实验室,第二单位为西安交通大学绍兴市通越宽禁带半导体研究院。研究工作得到了国家自然科学基金杰出青年基金的资助。

西安交大王来利教授团队在《自然综述·电气工程》 发表碳化硅功率器件封装与集成领域重要综述成果

王来利,西安交通大学电气工程学院教授、博士生导师,工业自动化系主任,国家杰出青年科学基金获得者。从事宽禁带半导体器件、封装集成与电力电子变换研究,承担国家级重点项目/课题10余项,发表国内外高水平论文300余篇,获中国电工技术学会技术发明一等奖、中国电源学会科技进步一等奖及日内瓦国际发明展金奖等多项奖励。


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