【会议亮点】

北京举办：立足首都科创高地，汇聚全国优质学术与产业资源

名校主办：北京信息科技大学权威主办，专业底蕴雄厚

大咖领衔：顶尖学者带来前沿主旨报告

产学研融合：高校 + 企业协同，推动科研成果高效转化

双检索保障：EI Compendex、Scopus 稳定检索，往届可查

高效审稿：7 个工作日快速通知，全英文规范出版

【重要信息】

会议官网：www.oidt.org

大会时间: 2026年10月30 日-11月1日

大会地点：中国 北京 

会议检索：EI Compendex、Scopus

截稿时间：以官网信息为准（早投稿、早审核、早录用）

高效出版流程 | 审稿周期短 | 快速录用 | 征稿主题范围广

【大会简介】

第二届光学成像与检测技术国际学术会议（OIDT 2026）将于2026年10月30日-11月1日在中国-北京隆重召开。会议将围绕“光学成像”、“检测技术”等相关最新研究领域，为来自国内外高等院校、科学研究所、企事业单位的专家、教授、学者、工程师等提供一个分享专业经验，扩大专业网络，面对面交流新思想以及展示研究成果的国际平台，探讨本领域发展所面临的关键性挑战问题和研究方向，以期推动该领域理论、技术在高校和企业的发展和应用，也为参会者建立业务或研究上的联系以及寻找未来事业上的全球合作伙伴。

【组织单位】

主办单位：北京信息科技大学

承办单位：北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院

协办单位：北京云端光科技术有限公司

【大会组委】

【主讲嘉宾】

更多嘉宾持续邀请中...

【征稿主题】

【论文出版与检索】 

所有的投稿都必须经过2-3位组委会专家审稿，经过严格的审稿之后，最终所有录用的论文将提交至SPIE - The International Society for Optical Engineering (ISSN: 0277-786X)出版，见刊后提交至EI Compendex, Scopus检索。

【参会方式】

作者参会：一篇录用文章允许一名作者免费参会

1、口头演讲：申请口头报告，时间为15分钟；

2、海报展示：申请海报展示，A1尺寸，彩色打印；

3、听众参会：不投稿仅参会，也可申请演讲及展示。

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