会议官网：www.icdtis.org （参会/投稿）

大会时间：2023年12月22-24日

大会地点：中国·芜湖

截稿日期：详见官网

收录检索：EI, Scopus【JPCS独立出版，往届已见刊检索】

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大会简介

第三届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2023）将于2023年12月22-24日在中国芜湖举行。DTIS 2023会议旨在为从事检测技术与智能系统领域的专家学者、工程技术人员、技术研发人员提供一个共享科研成果和前沿技术，了解学术发展趋势，拓宽研究思路，加强学术研究和探讨，促进学术成果产业化合作的平台。大会诚邀国内外高校、科研机构专家、学者，企业界人士及其他相关人员参会交流。

组织单位

主办单位：智能装备质量与可靠性安徽省重点实验室

承办单位：广东省艾思信息化学术交流研究院

协办单位：芜湖赛宝机器人产业技术研究院有限公司、安徽工程大学

支持单位：南开大学、上海大学、江苏大学、西安交通大学

大会嘉宾      

Prof. David Bassir

法国工程技术大学集团，巴黎萨克雷大学

孙宁教授（IEEE Senior Member）

南开大学

许德章教授（中国自动化学会机器人专业委员会委员）

安徽工程大学

Assoc. Prof. Xiaojun Yuan

纽约州立大学奥尔巴尼分校

论文出版

EI会议论文集

所有的投稿都必须经过2-3位组委会专家严格审稿，最终所有录用的论文将由EI期刊Journal of Physics: Conference Series (JPCS) (ISSN:1742-6596)出版，见刊后由出版社提交至 EI Compendex, Scopus 检索，目前该出版社EI检索稳定。

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征稿主题

*更多征稿主题，详见大会官网

大会议程

注册费用

参会方式

1、作者参会：一篇录用文章允许一名作者免费参会；

2、主讲嘉宾：申请主题演讲，由组委会审核；

3、口头演讲：申请口头报告，时间为15分钟；

4、海报展示：申请海报展示，A1尺寸；

5、听众参会：不投稿仅参会，也可申请演讲及展示。

6、请点击以下图表进行报名参会：

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