【会议亮点】

1. SPIE出版，有ISSN号

2. 往届论文均已检索，快至会后3个月检索！

3. 高录用，计算机、机器视觉、自动识别、人工智能等主题均收录

【重要信息】

会议官网： mvaid.net （更多详情）

会议时间：2026年4月24-26日 

会议地点：武汉

截稿时间：以官网信息为准（早投稿、早审核、早录用）

录用通知：投稿后2-7天左右

出版检索：EI、SCOPUS

更多学术会议信息、团队参会/团队投稿优惠，欢迎咨询会议秘书！

【大会简介】

第五届机器视觉、自动识别与检测国际学术会议(MVAID 2026)定于2026年4月24至26日在武汉隆重举行。MVAID 2026将围绕“机器视觉”与"自动识别与检测”等相关最新研究领域，为来自国内外高等院校、科学研究所、企事业单位的专家、教授、学者、工程师等提供一个分享专业经验，扩大专业网络，面对面交流新思想以及展示研究成果的国际平台，探讨本领域发展所面临的关键性挑战问题和研究方向，以期推动该领域理论、技术在高校和企业的发展和应用，欢迎各位领域内专家学者投稿参会！

【主办单位】

【会议委员会】

大会主席

黄泽波 教授，武汉东湖学院（副校长）

Thippa Reddy Gadekallu教授，浙江农林大学（H-index:80）

盛步云 教授，武汉理工大学（中国机械工程学会设计分会理事，湖北省机电工程学会副会长）

技术程序委员会主席

元辉 教授，山东大学（国家优青）

杨磊 研究员，郑州大学（全球前2%顶尖科学家）

马天磊 教授，郑州大学

冯波 副教授，武汉东湖学院

出版主席

Prof. Ata Jahangir Moshayedi, Jiangxi University of Science and Technology, China（IEEE Senior Member）

张杰，武汉东湖学院

更多嘉宾请点击官网查看

【征稿主题】（包含但不限于）

其他相关主题均可投稿！

【论文出版与检索】

所有的投稿经过严格的审稿之后，最终所录用的论文将由SPIE - The International Society for Optical Engineering (ISSN: 0277-786X)出版，出版后将提交至EI Compendex和Scopus检索 。（目前EI检索稳定，往届均已检索，最快会后3个月检索！）

◆作者可通过iThenticate（限时优惠）或其他查询体统自费查重，否则由文章重复率引起的被拒搞将由作者自行承担责任。涉嫌抄袭的论文将不被出版，且公布在会议主页。

◆文章需原创且未曾发表过。

◆会议仅接受全英稿件。如需翻译服务，请点击【艾思编译】

【参会方式】