第二届电子科学、技术与自动化国际会议 (IACESTA 2025)

会议简介

我们诚挚地邀请全球学术界精英、科研人员以及行业专家，参加定于2025年在中国深圳举办的第二届电子科学、技术与自动化国际会议（IACESTA 2025）。此次盛会旨在搭建一个促进知识交流、技术创新和国际合作的平台，共同探讨电子科学、技术和自动化领域的前沿问题及其应用。

随着信息技术的迅猛发展，电子科学与技术在推动社会进步方面发挥着日益重要的作用。同时，自动化技术的进步正在重塑各行各业的工作模式和效率。IACESTA 2025以“科技引领未来：创新与融合”为主题，聚焦于电子器件、集成电路设计、智能系统、机器人技术、工业自动化等多个热门话题。通过主题演讲、专题讨论、论文展示和技术工作坊等多种形式，本次会议将为参会者提供一个深入了解最新研究动态、分享实践经验的理想环境。

深圳，作为中国的科技创新中心之一，拥有丰富的科技资源和充满活力的创业氛围，是举办这样一场高水平国际会议的理想之地。这里不仅汇聚了众多高科技企业，还有多所知名高校和研究机构，为会议增添了浓厚的学术气息。

本次大会不仅是展示最新科研成果的窗口，也是建立合作关系的桥梁。我们期待与来自世界各地的专业人士一起，在这个充满机遇的城市，共同探索电子科学、技术与自动化的无限可能，携手推动科技进步和社会发展。欢迎各位踊跃参与！

大会信息

• 会议名称: 第二届电子科学、技术与自动化国际会议 (IACESTA 2025)
• 收录检索: EI Compendex, CPCI, CNKI, Google Scholar等
• 会议官网: www.estaic.com
• 大会地点: 中国·深圳
• 审稿通知: 投稿后2-3日内通知
• 投稿邮箱: icesta@sub-paper.com
• 会议秘书: 姚老师 19980549140(微信同号)
• 其他说明: 需要延期投稿、参会证书、会议邀请函、会议通知或了解更多会议详情，请联系上方组委会老师

主题方向

• 电子科学与技术

  • 信号处理、图像处理、半导体技术、电源系统
  • 集成电路、物理电子学、电子线路、计算机语言
  • 微型计算机原理、电动力学、量子力学、理论物理
  • 半导体物理、物理电子与电子学、微电子学
  • 计算机结构与逻辑设计、电子科学与技术学科概论
  • 信号与系统、电子电路基础、微机系统与接口
  • 电磁场理论、固体物理基础、现代光学基础
  • 信息电子技术中的场与波、光电子物理基础
  • 电子器件、VLSI设计基础、显示技术、光电子技术
  • 微波毫米波电子学、光纤通信、数字信号处理
  • 嵌入式系统概论

• 自动化

  • 线性系统控制、控制集成电路和应用
  • 新兴技术建模和仿真、工程软件工程进展
  • 自动控制系统、自动化和监控系统
  • 控制和嵌入式系统、机器人系统控制
  • 容错控制系统、分数阶系统和控制
  • 智能系统控制、机电一体化、工程系统建模
  • 网络和电机、非线性理论和应用
  • 可再生能源转换、自动控制原理与技术
  • 柔性自动化解决方案、基于大数据的学习、优化与决策
  • 基于大数据的建模、控制与诊断
  • 智能制造与高端自动化系统、新能源控制与绿色制造技术
  • 图像处理与计算机视觉、空间飞行器控制
  • 船舶自动控制与综合操控、无人系统的信息处理与控制
  • 网络集群与网络化控制、先进传感技术与仪器仪表
  • 无线传感网与数据融合、故障诊断与系统运行安全
  • 复杂系统的平行控制和管理、物流系统与自动化

参与方式

• 旁听参会: 不投稿且不参与演讲及展示。
• 汇报参会: 10-15分钟口头报告演讲。
• 投稿参会: 文章将登刊在论文集，出刊后统一提交检索。

联系下方老师参与报名！

论文提交指南

1. 文章需全英文撰写，请将英文稿件(Word格式)发送至组委会邮箱，邮件标题请注明“作者姓名+联系方式+投稿”。
2. 仅作报告而不发表文章，请将摘要投递到组委会邮箱即可；摘要投稿无格式要求，但需包含标题、内容、关键词及作者信息，建议篇幅控制在1页以内，最长不超过2页。
3. 全文投稿篇幅建议4-10页（按照模板格式，带图和参考文献），超过规定页数需缴纳超页费。
4. 提交审核结果将在2-3个工作日内通过邮件通知；如逾期未收到通知，请及时联系我们。
5. 投稿前可提前联系组委会老师确认文章方向是否符合会议主题，以便快速审稿及录用！

审稿流程

1. 初步审核: 确认稿件主题是否符合会议目标和范围，进行查重。
2. 同行评审: 使用双盲系统进行同行评审，每篇稿件由至少2-3名相关领域专家评估。
3. 采取意见: 根据评审员的建议做出最终决定，必要时启动第二轮同行评审。

检索与出版

评审通过的文章将以会议论文集的形式出版，并提交至EI Compendex、Scopus和Inspec等数据库检索。